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半導體可靠性測試方法高低溫試驗箱

 更新時間:2023-06-24 點擊量:912

半導體可靠性測試方法高低溫試驗箱:

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試件:

多個樣品在同一試驗箱進行高溫實驗時,應保證所有樣品都處在同一環境溫度下,并具有相同的安裝條件。
對于散熱樣品而言,各個試件之間不能因輻射散熱而影響到其它試件,即試件間隔應足夠大,這樣對于單個試件來說,其他散熱試件輻射到其上的熱量所造成的溫度變化就很小,到可忽略的程度。
對于非散熱試件,溫度保持不變的高溫或低溫試驗,試件間的間距可以不做要求,因為溫度恒定后試件的溫度與溫度試驗箱內的溫度保持一致,不發生熱量交換,試件間的間距對試驗不會產生影響。
非散熱試件的溫度變化試驗試件間則應該保持間隔,使試驗件之間有足夠的空氣流動,加速試件與溫度試驗箱之間的熱交換,使試件盡快達到試驗的溫度。

試驗方法:

1.溫度下限工作試驗:受試樣品先加電運行測試程序進行初試檢測。在受試樣品不工作的條件下,將箱內溫度逐漸降到0,待溫度穩定后,加電運行測試程序5h,受試樣品功能與操作應正常,試驗完后,待箱溫度回到室溫,取出樣品,在正常大氣壓下恢復2h。

推薦檢驗標準:受試樣品功能與操作應正常,外觀無明顯偏差。

2.低溫儲存試驗將樣品放入低溫箱,使箱溫度降到-20℃,在受試樣品不工作的條件下存放16h,取出樣品回到室溫,再恢復2h,加電運行測試程序進行后檢驗,受試樣品功能與操作應正常,外觀無明顯偏差。為防止試驗中受試樣品結霜和凝露,允許將受試樣品用聚乙稀薄膜密封后進行試驗,必要時還可以在密封套內裝吸潮劑。

3.溫度上限工作試驗受試樣品先進行初試檢測。在受試樣品不工作的條件下,將箱溫度逐漸升到40℃,待溫度穩定后,加電運行系統診斷程序5h,受試樣品功能與操作應正常,試驗完后,待箱溫度回到室溫,取出樣品,在正常大氣壓下恢復2h。

4.高溫儲存試驗將樣品放入高溫箱,使箱溫度升到55℃,在受試樣品不工作的條件下存放16h,取出樣品回到室溫,恢復2h。