TT230時代膜厚儀

描述：TT230 涂層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

更新時間：2024-10-22

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廠商性質：經銷商

詳情介紹

一、TT230時代涂層測厚儀簡述

TT230 涂層測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量?？蓮V泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

二、涂層測厚儀——執行標準：

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法

J B/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀

JG 818─93 《電渦流式測厚儀》

三、涂層測厚儀——功能特點：

可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；

具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；

具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）

具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；

設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；

具有米、英制轉換功能；

具有打印功能，可打印測量值、統計值；

具有欠壓指示功能；

操作過程有蜂鳴聲提示；

具有錯誤提示功能；

具有自動關機功能

四、涂層測厚儀——技術參數表：

測頭類型		N
測量原理		電渦流
測量范圍		0-1250um/0-40um（銅上鍍鉻）
低限分辨力		1µm（10um以下為0.1um）
探頭連接方式		一體化
示值誤差	一點校準（um）	±[3%H+1.5]
	兩點校準（um）	±[（1%~3%）H+1.5]
測量條件	zui小曲率半徑（mm）	凸3 凹10
	基體zui小面積的直徑（mm）	ф5
	zui小臨界厚度（mm）	0.3
溫濕度		0~40℃ 20%RH～90%RH
統計功能		平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
測量方式		連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
上下限設置		無
存儲能力		15 個測量值
打印/連接計算機		可選配打印機/不能連接電腦
關機方式		自動
電源		二節3.6V鎳鎘電池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g

五、涂層測厚儀——標準配置：
主機

z標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）

z鐵基體

z充電器

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